Анализ волокна - Fiber analysis

Анализ волокна - это метод выявления и изучения волокон, используемых правоохранительными органами по всему миру для сбора доказательств в ходе расследования. Правоохранительные органы также используют анализ волокна для размещения подозреваемых на месте преступления. Передача волокна может происходить при тесном контакте с потерпевшим или подозреваемым. Передача волокна также может происходить во время взлома, когда волокна от нарушителя застревают.[1][2] Этот метод обычно не используется для фактического установления личности преступника в ходе расследования, поскольку он не так надежен, как ДНК.[1]

Анализ волокна не следует официально установленной процедуре. Наиболее частым применением анализа волокон является микроскопическое исследование образцов как в продольном, так и в поперечном сечениях. Хотя это наиболее распространенный метод анализа волокон, существуют и другие. К ним относятся методы сжигания и растворения. Эти методы чаще всего используются для выявления идентичности волокна. Анализ клетчатки обычно не проводится в университетских лабораториях из-за отсутствия необходимых растворителей.[2]

Методы

Сканирующая электронная микроскопия

Основная статья: Сканирующий электронный микроскоп
СЭМ открыла камеру для образцов

Сканирующая электронная микроскопия (SEM) - это метод фотографии, для которого требуется инструмент, называемый растровый электронный микроскоп, в котором для формирования изображения используются электроны, а не свет. Использование SEM вместо светового микроскопа дает много преимуществ. Использование SEM требует большого глубина резкости, что позволяет одновременно фокусировать большое количество образца.[3]

Атомно-силовая микроскопия

Основная статья: Атомно-силовая микроскопия
Коммерческая установка АСМ

Атомно-силовая микроскопия - это метод, который выполняется с использованием атомно-силового микроскопа, который представляет собой инструмент, который может анализировать и характеризовать образцы на микроскопическом уровне. Инструмент позволяет аналитику смотреть на характеристики поверхности с очень точным разрешением в диапазоне от 100 мкм до менее 1 мкм.[4]

Рекомендации

  1. ^ а б Рамсленд, Кэтрин. «Следить за доказательствами». TruTV. Архивировано из оригинал 3 октября 2012 г.. Получено 5 апреля 2011.
  2. ^ а б А. Кац, Дэвид. «Исследование анализа волокон» (PDF). Chymist.com. Получено 5 апреля 2011.
  3. ^ "ЧТО ТАКОЕ S.E.M.?". Государственный университет Айовы. Архивировано из оригинал 19 июля 2011 г.. Получено 5 апреля 2011.
  4. ^ «Атомно-силовая микроскопия: руководство по пониманию и использованию АСМ» (PDF). Государственный университет Техаса. Архивировано из оригинал (PDF) 22 июля 2011 г.. Получено 6 апреля 2011.
Как анализ волокна работает с большими и маленькими образцами