Джерри Терсофф является главным научным сотрудником IBM Исследовательский центр Томаса Дж. Уотсона. Его работа охватывает различные темы в области теоретического понимания поверхностей, интерфейсов, электронных материалов, эпитаксиального роста и наноразмерных устройств. На протяжении всей своей карьеры он делал упор на использовании простых моделей для понимания сложного поведения.[1]
Награды и отличия
- 1988 Мемориал Питера Марка «За инновационные подходы к теоретическому пониманию электронной структуры, свойств и измерения поверхностей и границ раздела».
- 1996 Медаль MRS «За плодотворный вклад в теорию релаксации деформации в тонких пленках».
- 1997 Премия Дэвиссона-Гермера в области атомной физики или физики поверхности «За проницательные, творческие теоретические описания феноменологии поверхности, особенно динамики роста кристаллов, структур поверхности и их зондов».
- 2007 Премия Медарда В. Уэлча «За плодотворный теоретический вклад в понимание поверхностей, границ раздела, тонких пленок и наноструктур электронных материалов».
Смотрите также
Рекомендации
Авторитетный контроль  | |
|---|
