Анализ лазерной вспышки - Laser flash analysis
Использует | измерять температуропроводность, теплопроводность, удельная теплоемкость, |
---|
В анализ лазерной вспышки или же метод лазерной вспышки используется для измерения температуропроводность из множества различных материалов. Импульс энергии нагревает одну сторону плоскопараллельного образца, и обнаруживается результирующее зависящее от времени повышение температуры на задней стороне из-за подводимой энергии. Чем выше коэффициент температуропроводности образца, тем быстрее энергия достигает тыльной стороны. Современная лазерная вспышка (LFA) для измерения температуропроводности в широком диапазоне температур, показан справа.
В одномерном, адиабатический случай то температуропроводность рассчитывается исходя из этого повышения температуры следующим образом:
Где
- коэффициент температуропроводности в см² / с
- толщина образца в см
- время до половины максимума в с
Принцип измерения
Метод лазерной вспышки был разработан Parker et al. в 1961 г.[1]В вертикальной установке источник света (например, лазер, лампа-вспышка) нагревает образец снизу, а датчик наверху обнаруживает зависящее от времени повышение температуры. Для измерения температуропроводности, которая сильно зависит от температуры, при разных температурах образец можно поместить в печь с постоянной температурой.
Идеальные условия
- однородный материал,
- однородный подвод энергии на лицевой стороне
- зависящий от времени короткий импульс - в виде Дельта-функция Дирака
В модели внесены некоторые улучшения. В 1963 году Коуэн принимает во внимание излучение и конвекцию на поверхности.[2]Кейп и Леман рассматривают переходный теплоперенос, эффекты конечных импульсов, а также тепловые потери в том же году.[3]Блюмм и Опферманн улучшили модель Кейп-Лемана, добавив решения высокого порядка по радиальной переходной теплопередаче и лицевым тепловым потерям, процедуру нелинейной регрессии в случае высоких тепловых потерь и усовершенствованную запатентованную коррекцию длины импульса.[4][5]
Смотрите также
Рекомендации
- ^ У. Дж. Паркер; Р.Дж. Дженкинс; C.P. Дворецкий; Г. Л. Эбботт (1961). «Метод определения теплопроводности, теплоемкости и теплопроводности». Журнал прикладной физики. 32 (9): 1679. Bibcode:1961JAP .... 32.1679P. Дои:10.1063/1.1728417.
- ^ Р.Д. Коуэн (1963). «Импульсный метод измерения температуропроводности при высоких температурах». Журнал прикладной физики. 34 (4): 926. Bibcode:1963JAP .... 34..926C. Дои:10.1063/1.1729564.
- ^ J.A. Мыс; G.W. Леман (1963). "Температурные и временные эффекты конечных импульсов в методе вспышки для измерения температуропроводности". Журнал прикладной физики. 34 (7): 1909. Bibcode:1963JAP .... 34.1909C. Дои:10.1063/1.1729711.
- ^ Патент США 7038209
- ^ J. Blumm; Дж. Опферманн (2002). «Усовершенствование математического моделирования импульсных измерений». Высокие температуры - высокое давление. 34 (5): 515. Дои:10,1068 / htjr061.