Репутация - Википедия - Resputtering
Эта статья требует внимания специалиста по физике.Февраль 2009 г.) ( |
Репутация включает повторную эмиссию материала, например SiO2, депонированный распыление вовремя отложение.[1] Как и при распылении, повторное излучение вызывается ионной бомбардировкой осажденного материала. Методика повторного прохождения впервые была опубликована Л.И. Maissel et al. в Журнал прикладной физики (Январь 1965 г., стр. 237) и был назван Предвзятое распыление.[2]
Рекомендации
- ^ Gregoire, J.M .; Лобовский, М.Б .; Heinz, M. F .; DiSalvo, F.J .; ван Довер, Р. Б. (26 ноября 2007 г.). «Репрезентативные явления и определение состава в соосажденных фильмах». Физический обзор B. 76 (19): 195437. Bibcode:2007ПхРвБ..76с5437Г. Дои:10.1103 / PhysRevB.76.195437.
- ^ Кестер, Дэниел Дж .; Мессье, Рассел (NaN). «Макроэффекты перераспределения при бомбардировке отрицательными ионами растущих тонких пленок». Журнал материаловедения. 8 (8): 1928–1937. Bibcode:1993JMatR ... 8.1928K. Дои:10.1557 / JMR.1993.1928. ISSN 2044-5326. Получено 24 октября 2019. Проверить значения даты в:
| дата =
(помощь)
Эта статья о технологиях заглушка. Вы можете помочь Википедии расширяя это. |