Нелинейный фотонный кристалл - Nonlinear photonic crystal
Нелинейные фотонные кристаллы обычно используются как квазисинхронизм материалы. Они могут быть как одномерными[1] или двухмерный.[2]
Нелинейные фотонные кристаллы
Вообще говоря, нелинейные фотонные кристаллы (ПК) представляют собой периодические структуры, оптический отклик которых зависит от интенсивности оптического поля, которое распространяется в кристалл. Непосредственным следствием этого является то, что такие структуры обладают новыми оптическими свойствами с улучшенными или новыми функциями, которые нельзя получить с помощью их линейных аналогов, а именно линейных pPC. Одним из таких примеров является оптическая настраиваемость, то есть оптическое управление откликом устройств на базе ПК. Хотя настраиваемость оптических свойств фотонных кристаллов может быть достигнута, например, путем приложения электрического поля к инвертированному опаловому ПК, пропитанному нематической жидкокристаллический, модулируя показатель преломления ПК через электрооптический эффект индуцированный внешним электрическим полем или вызванными температурой изменениями показателя преломления ПК, высокая скорость работы, требуемая для некоторых усовершенствованных систем оптической связи, может быть достигнута только в том случае, если используются собственные оптические нелинейности в материале ПК. Причина этого - сверхбыстрая реакция некоторых нелинейных диэлектрических материалов на оптические поля. В отличие от сейчас очень обширных исследований свойств и устройств в линейных фотонных кристаллах, исследования теоретического и экспериментального поведения этих структур в условиях интенсивных оптических полей, например в нелинейном режиме все еще находится в стадии формирования.
Рекомендации
- ^ J.A. Армстронг; Н. Блумберген; Дж. Дюкюинг; P.S. Першан (1962). «Взаимодействие световых волн в нелинейном диэлектрике». Физический обзор. 127 (6): 1918. Bibcode:1962ПхРв..127.1918А. Дои:10.1103 / PhysRev.127.1918.
- ^ В. Бергер (1998). «Нелинейные фотонные кристаллы». Письма с физическими проверками. 81 (19): 4136–4139. Bibcode:1998ПхРвЛ..81.4136Б. Дои:10.1103 / PhysRevLett.81.4136.