Зондовый силовой микроскоп Кельвина - Kelvin probe force microscope

В зондовой силовой микроскопии Кельвина проводящий кантилевер сканируется по поверхности на постоянной высоте, чтобы отобразить работу выхода поверхности.
Scanning Kelvin probe instrument
Типичный сканирующий зонд Кельвина (SKP). Слева - блок управления с синхронным усилителем и регулятором поддерживающего потенциала. Справа ось сканирования x, y, z с вибратором, электрометр и зонд установлен.

Зонд силовая микроскопия Кельвина (КПФМ), также известный как микроскопия поверхностного потенциала, является бесконтактным вариантом атомно-силовая микроскопия (АСМ).[1][2][3] К растровое сканирование в плоскости x, y работу выхода образца можно локально отобразить для корреляции с характеристиками образца. Когда увеличение мало или отсутствует, этот подход можно описать как использование сканирующий зонд Кельвина (СКП). Эти методы в основном используются для измерения коррозия и покрытия.

С КПФМ рабочая функция поверхностей можно наблюдать на атомный или же молекулярный напольные весы. Работа выхода относится ко многим поверхностным явлениям, включая каталитическая активность, реконструкция поверхностей, легирование и гибка ленты полупроводники, захват заряда в диэлектрики и коррозия. Карта работы выхода, созданная KPFM, дает информацию о составе и электронном состоянии локальных структур на поверхности твердого тела.

История

Методика СКП основана на конденсатор с параллельными пластинами эксперименты, проведенные Лорд Кельвин в 1898 г.[4] В 1930-е гг. Уильям Зисман основанный на экспериментах лорда Кельвина, чтобы разработать метод измерения разности контактных потенциалов разнородных металлы.[5]

Принцип работы

Diagram of Fermi level changes during scanning Kelvin probe
Изменения в Уровни Ферми сканирующего зонда Кельвина (SKP) образца и зонда во время измерения. Об электрическом подключении зонда и образца их Уровни Ферми уравновешиваются, и на зонде и образце возникает заряд. Поддерживающий потенциал применяется для обнуления этого заряда, возвращая уровень Ферми образца в исходное положение.

В SKP зонд и образец удерживаются параллельно друг другу и электрически соединяются, образуя конденсатор с параллельными пластинами. Зонд выбирается из материала, отличного от материала образца, поэтому каждый компонент изначально имеет отдельный Уровень Ферми. Когда между зондом и образцом установлено электрическое соединение электрон Между зондом и образцом может возникать поток в направлении от более низкого уровня Ферми к более высокому. Этот электронный поток вызывает уравновешивание уровней Ферми зонда и образца. Кроме того, поверхностный заряд возникает на зонде и образце с соответствующей разностью потенциалов, известной как контактный потенциал (Vc). В СКП зонд колеблется по перпендикуляру к плоскости образца.[6] Эта вибрация вызывает изменение расстояния между зондом и образцом, что, в свою очередь, приводит к протеканию тока, принимающего форму переменного тока. синусоидальная волна. Результирующая синусоидальная волна переменного тока демодулируется в сигнал постоянного тока с помощью синхронный усилитель.[7] Как правило, пользователь должен выбрать правильное значение опорных фазового используемое синхронный усилителя. После определения постоянного потенциала внешний потенциал, известный как поддерживающий потенциал (Vб) может применяться для обнуления заряда между зондом и образцом. Когда заряд обнуляется, уровень Ферми образца возвращается в исходное положение. Это означает, что Vб равно -Vc, которая представляет собой разность работы выхода между зондом SKP и измеряемым образцом.[8]

Illustration of scanning Kelvin probe
Упрощенная иллюстрация техники сканирующего зонда Кельвина (SKP). Показано, что зонд колеблется по оси z, перпендикулярно плоскости образца. Зонд и образец образуют конденсатор с параллельными пластинами, как показано.
Block diagram of scanning Kelvin probe
Блок-схема сканирующего зонда Кельвина (SKP), показывающая компьютер, блок управления, оси сканирования, вибратор, зонд и образец

Кантилевер в АСМ представляет собой электрод сравнения который образует конденсатор с поверхностью, по которой он сканируется в боковом направлении с постоянным разделением. Кантилевер не имеет пьезоэлектрического привода, а механический резонанс частота ω0 как и в обычном AFM, хотя на этой частоте подается напряжение переменного тока.

Когда существует разность потенциалов постоянного тока (DC) между наконечником и поверхностью, смещение напряжения AC + DC вызовет вибрацию кантилевера. Происхождение силы можно понять, если учесть, что энергия конденсатора, образованного кантилевером и поверхностью, равна

плюс условия в DC. Только перекрестный срок, пропорциональный VОКРУГ КОЛУМБИЯ· VAC произведение находится на резонансной частоте ω0. Результирующая вибрация кантилевера обнаруживается с помощью обычных методов сканирующей зондовой микроскопии (обычно с использованием диодного лазера и четырехквадрантного детектора). Нулевая цепь используется для управления потенциалом постоянного тока наконечника до значения, которое минимизирует вибрацию. Таким образом, карта этого обнуляющего постоянного потенциала в зависимости от координаты поперечного положения дает изображение работы выхода поверхности.

Родственная техника, электростатическая силовая микроскопия (EFM), непосредственно измеряет силу, создаваемую на заряженном наконечнике электрическим полем, исходящим от поверхности. EFM работает во многом как магнитно-силовая микроскопия в том, что сдвиг частоты или изменение амплитуды колебаний кантилевера используется для обнаружения электрического поля. Однако EFM гораздо более чувствителен к топографическим артефактам, чем KPFM. И EFM, и KPFM требуют использования токопроводящих консолей, обычно с металлическим покрытием. кремний или же нитрид кремния.

Факторы, влияющие на измерения SKP

На качество измерения SKP влияет ряд факторов. Это включает в себя диаметр зонда SKP, расстояние от зонда до образца и материал зонда SKP. Диаметр зонда важен при измерении SKP, поскольку он влияет на общее разрешение измерения, а зонды меньшего размера приводят к повышению разрешения.[9][10] С другой стороны, уменьшение размера зонда вызывает усиление эффекта окантовки, что снижает чувствительность измерения за счет увеличения измерения паразитных емкостей.[11] Материал, используемый в конструкции зонда SKP, важен для качества измерения SKP.[12] Это происходит по ряду причин. Различные материалы имеют разные значения работы выхода, что влияет на измеряемый контактный потенциал. У разных материалов разная чувствительность к перепадам влажности. Материал также может повлиять на результат боковой разрешение измерения СКП. В коммерческих пробах вольфрам используется,[13] хотя исследования платина,[14] медь,[15] золото,[16] и NiCr был использован.[17] Расстояние между зондом и образцом влияет на окончательное измерение SKP, при этом меньшее расстояние от зонда до образца улучшает поперечное разрешение [10] и соотношение сигнал шум измерения.[18] Кроме того, уменьшение зонда SKP до расстояния до образца увеличивает интенсивность измерения, где интенсивность измерения пропорциональна 1 / д2, куда d расстояние от зонда до образца.[19] Влияние изменения расстояния между датчиком и образцом на измерение можно нейтрализовать, используя SKP в режиме постоянного расстояния.

Рабочая функция

Зондовый силовой микроскоп Кельвина или силовой микроскоп Кельвина (KFM) основан на установке АСМ, а определение работы выхода основано на измерении электростатических сил между маленьким наконечником АСМ и образцом. Проводящий наконечник и образец характеризуются (в общем) разными рабочими функциями, которые представляют собой разницу между Уровень Ферми и уровень вакуума для каждого материала. Если бы оба элемента соприкоснулись, между ними протекал бы электрический ток, пока уровни Ферми не выровнялись. Разница между рабочими функциями называется контактная разность потенциалов и обычно обозначается VCPD. Между зондом и образцом существует электростатическая сила из-за электрического поля между ними. Для измерения между зондом и образцом прикладывается напряжение, состоящее из смещения постоянного тока. VОКРУГ КОЛУМБИЯ и переменное напряжение VAC грех (ωt) частоты ω.

Настройка частоты переменного тока на резонансная частота кантилевера АСМ приводит к повышению чувствительности. Электростатическая сила в конденсаторе может быть найдена путем дифференцирования функции энергии относительно разделения элементов и может быть записана как

куда C это емкость, z это разделение, и V - напряжение между наконечником и поверхностью. Подстановка предыдущей формулы для напряжения (В) показывает, что электростатическая сила может быть разделена на три составляющих, так как общая электростатическая сила F действующий на острие, то имеет спектральные составляющие на частотах ω и 2ω.

Компонент постоянного тока, FОКРУГ КОЛУМБИЯ, способствует топографическому сигналу, термин Fω на характерной частоте ω используется для измерения контактного потенциала и вклада F2ω может быть использован для емкостной микроскопии.

Измерения контактного потенциала

Для измерения контактного потенциала a синхронный усилитель используется для обнаружения колебаний кантилевера на ω. Во время сканирования VОКРУГ КОЛУМБИЯ будет отрегулирован так, чтобы электростатические силы между зондом и образцом стали равными нулю и, таким образом, отклик на частоте ω стал равным нулю. Поскольку электростатическая сила при ω зависит от VОКРУГ КОЛУМБИЯ - VCPD, значение VОКРУГ КОЛУМБИЯ что сводит к минимуму ω-терм соответствует контактному потенциалу. Абсолютные значения работы выхода образца могут быть получены, если зонд сначала откалиброван по эталонному образцу с известной работой выхода.[20] Кроме того, можно использовать обычные методы топографического сканирования на резонансной частоте ω независимо от вышеизложенного. Таким образом, за одно сканирование одновременно определяются топография и контактный потенциал образца. Это можно сделать (по крайней мере) двумя разными способами: 1) Топография фиксируется в режиме переменного тока, что означает, что кантилевер приводится в движение пьезо на его резонансной частоте. Одновременно с этим для измерения KPFM подается переменное напряжение с частотой немного ниже резонансной частоты кантилевера. В этом режиме измерения топография и контактная разность потенциалов фиксируются одновременно, и этот режим часто называют однопроходным. 2) Одна линия топографии фиксируется либо в режиме контакта, либо в режиме переменного тока и сохраняется внутри. Затем эта линия сканируется снова, в то время как кантилевер остается на определенном расстоянии от образца без механических колебаний, но прикладывается напряжение переменного тока измерения KPFM и захватывается контактный потенциал, как описано выше. Важно отметить, что острие кантилевера не должно быть слишком близко к образцу, чтобы обеспечить хорошие колебания с приложенным напряжением переменного тока. Следовательно, KPFM может выполняться одновременно во время измерений топографии переменного тока, но не во время измерений контактной топографии.

Приложения

В Вольта потенциал измеряется SKP прямо пропорционально потенциалу коррозии материала,[21] как таковой SKP нашел широкое применение при изучении коррозии и покрытий. В области покрытий, например, поцарапанная область самовосстановления полимер с памятью формы покрытие, содержащее теплогенерирующий агент, на алюминиевые сплавы был измерен СКП.[22] Первоначально после нанесения царапины потенциал Вольта был заметно выше и шире по царапине, чем по остальной части образца, что означает, что эта область более склонна к коррозии. Потенциал Вольта уменьшился в ходе последующих измерений, и в конечном итоге пик над царапиной полностью исчез, что означает, что покрытие зажило. Поскольку SKP можно использовать для исследования покрытий неразрушающим способом, он также использовался для определения разрушения покрытия. В исследовании полиуретан покрытий, было видно, что работа выхода увеличивается с увеличением воздействия высокой температуры и влажности.[23] Это увеличение работы выхода связано с разложением покрытия, вероятно, из-за гидролиз связей внутри покрытия.

Использование СКП коррозии промышленно важных сплавы был измерен.[нужна цитата ] В частности, с помощью SKP можно исследовать влияние воздействия окружающей среды на коррозию. Например, микробно вызванная коррозия нержавеющая сталь и титан был исследован.[24] SKP полезен для изучения этого вида коррозии, потому что она обычно возникает локально, поэтому глобальные методы плохо подходят. Изменения поверхностного потенциала, связанные с повышенной локальной коррозией, были продемонстрированы измерениями SKP. Кроме того, можно было сравнить коррозию, вызванную различными видами микробов. В другом примере SKP использовался для исследования биомедицинский материалы из сплава, которые могут подвергаться коррозии внутри человеческого тела. В исследованиях Ti-15Mo при воспалительных состояниях[25] Измерения SKP показали более низкую коррозионную стойкость на дне коррозионной ямы, чем на окись защищенная поверхность сплава. SKP также использовался для исследования эффектов атмосферной коррозии, например, для исследования медных сплавов в морской среде.[26] В этом исследовании потенциалы Кельвина стали более положительными, что указывает на более положительный потенциал коррозии при увеличении времени воздействия из-за увеличения толщины продуктов коррозии. В качестве последнего примера СКП использовался для исследования нержавеющей стали в моделируемых условиях газопровода.[27] Эти измерения показали увеличение разницы в потенциале коррозии катодный и анодный области с увеличенным временем коррозии, что указывает на более высокую вероятность коррозии. Кроме того, эти измерения SKP предоставили информацию о локальной коррозии, что невозможно с другими методами.

SKP использовался для исследования поверхностного потенциала материалов, используемых в солнечные батареи, с тем преимуществом, что это бесконтактный и, следовательно, неразрушающий метод.[28] Его можно использовать для определения сродства к электрону различных материалов, в свою очередь, допуская перекрытие уровней энергии зоны проводимости из различных материалов предстоит определить. Перекрытие энергетических уровней этих полос связано с откликом системы от фотоэдс на поверхности.[29]

В качестве бесконтактного неразрушающего метода SKP использовался для исследования скрытых отпечатки пальцев по интересующим материалам для судебно-медицинский исследования.[30] Когда отпечатки пальцев остаются на металлической поверхности, они оставляют после себя соли, которые могут вызвать локальную коррозию интересующего материала. Это приводит к изменению вольта-потенциала образца, которое обнаруживается SKP. SKP особенно полезен для этих анализов, потому что он может обнаруживать это изменение вольта-потенциала даже после нагрева или покрытия, например, маслом.

СКП использовался для анализа механизмов коррозии шрайберзит -содержащий метеориты.[31][32] Целью этих исследований было изучить роль таких метеоритов в высвобождении видов, используемых в пребиотик химия.

В области биологии СКП использовался для исследования электрические поля связана с ранение,[33] и иглоукалывание точки.[34]

Смотрите также

Рекомендации

  1. ^ М. Нонненмахер; М. П. О'Бойл; Х. К. Викрамасингхе (1991). «Зонд силовая микроскопия Кельвина» (PDF). Appl. Phys. Латыш. 58 (25): 2921. Bibcode:1991АпФЛ..58.2921Н. Дои:10.1063/1.105227. Архивировано из оригинал (скачать pdf бесплатно) на 20.09.2009.
  2. ^ Фуджихира, Масамичи (1999). «СИЛОВАЯ МИКРОСКОПИЯ МОЛЕКУЛЯРНЫХ ПОВЕРХНОСТЕЙ КЕЛЬВИНА». Ежегодный обзор материаловедения. 29 (1): 353–380. Bibcode:1999AnRMS..29..353F. Дои:10.1146 / annurev.matsci.29.1.353. ISSN  0084-6600.
  3. ^ Мелиц, Вильгельм; Шен, Цзянь; Каммел, Эндрю С .; Ли, Сангёб (2011). «Зондовая силовая микроскопия Кельвина и ее применение». Отчеты по науке о поверхности. 66 (1): 1–27. Bibcode:2011 СурСР..66 .... 1M. Дои:10.1016 / j.surfrep.2010.10.001. ISSN  0167-5729.
  4. ^ Кельвин, лорд (1898). «В. Контактное электричество металлов». Лондонский, Эдинбургский и Дублинский философский журнал и научный журнал. 46 (278): 82–120. Дои:10.1080/14786449808621172. ISSN  1941-5982.
  5. ^ Зисман, В. А. (1932). «НОВЫЙ МЕТОД ИЗМЕРЕНИЯ КОНТАКТНЫХ ПОТЕНЦИАЛЬНЫХ РАЗНОСТЕЙ В МЕТАЛЛАХ». Обзор научных инструментов. 3 (7): 367–370. Дои:10.1063/1.1748947. ISSN  0034-6748.
  6. ^ Ровердер, Майкл; Турку, Флорин (2007). «Зондовая микроскопия Кельвина высокого разрешения в науке о коррозии: сканирующая зондовая силовая микроскопия Кельвина (SKPFM) по сравнению с классическим сканирующим зондом Кельвина (SKP)». Electrochimica Acta. 53 (2): 290–299. Дои:10.1016 / j.electacta.2007.03.016.
  7. ^ Черан, Лариса-Эмилия; Джонстон, Шерри; Садеги, Саман; Томпсон, Майкл (19 января 2007 г.). "Измерение работы выхода сканирующим нанозондом Кельвина с высоким разрешением". Измерительная наука и техника. 18 (3): 567–578. Дои:10.1088/0957-0233/18/3/005. ISSN  0957-0233.
  8. ^ Surplice, N A; Д'Арси, Р. Дж. (1970). «Критика метода Кельвина для измерения работы выхода». Журнал физики E: научные инструменты. 3 (7): 477–482. Дои:10.1088/0022-3735/3/7/201. ISSN  0022-3735.
  9. ^ Вичинский, Мариуш; Бургшталлер, Вольфганг; Хассель, Ахим Вальтер (2016). «Боковое разрешение в сканирующей зондовой микроскопии Кельвина». Наука о коррозии. 104: 1–8. Дои:10.1016 / j.corsci.2015.09.008.
  10. ^ а б McMurray, H.N .; Уильямс, Г. (2002). «Зависимость диаметра зонда и расстояния между зондом и образцом в поперечном разрешении сканирующего зонда Кельвина». Журнал прикладной физики. 91 (3): 1673–1679. Дои:10.1063/1.1430546. ISSN  0021-8979.
  11. ^ Вичинский, Мариуш; Бургшталлер, Вольфганг; Хассель, Ахим Вальтер (2016). «Боковое разрешение в сканирующей зондовой микроскопии Кельвина». Наука о коррозии. 104: 1–8. Дои:10.1016 / j.corsci.2015.09.008.
  12. ^ Хубер, Сильвия; Вичинский, Мариуш; Хассель, Ахим Вальтер (2018). «Пригодность различных материалов для зондов при измерениях сканирующим зондом Кельвина». Physica Status Solidi A. 215 (15): 1700952. Дои:10.1002 / pssa.201700952.
  13. ^ "Сканирующий зонд Кельвина с высоким разрешением". Инструменты биологических наук. Получено 2019-05-17.
  14. ^ Hansen, Douglas C .; Hansen, Karolyn M .; Ferrell, Thomas L .; Thundat, Томас (2003). «Выявление биомолекулярных взаимодействий с использованием технологии зонда Кельвина». Langmuir. 19 (18): 7514–7520. Дои:10.1021 / la034333w. ISSN  0743-7463.
  15. ^ Диршерл, Конрад; Байки, Иэн; Форсайт, Грегор; Хайде, Арвид ван дер (2003). «Использование сканирующего зонда Кельвина с микроострием для неинвазивного картирования поверхностного потенциала солнечных элементов mc-Si». Материалы для солнечной энергии и солнечные элементы. 79 (4): 485–494. Дои:10.1016 / S0927-0248 (03) 00064-3.
  16. ^ Стратманн, М. (1987). «Исследование коррозионных свойств металлов, покрытых слоями адсорбированного электролита - новый экспериментальный метод». Наука о коррозии. 27 (8): 869–872. Дои:10.1016 / 0010-938X (87) 90043-6.
  17. ^ Назаров, А.П .; Тьерри, Д. (2001). "Исследование границы раздела углеродистая сталь / алкидное покрытие методом сканирующего вибрационного конденсатора". Защита металлов. 37 (2): 108–119. Дои:10.1023 / а: 1010361702449. ISSN  0033-1732.
  18. ^ «Отслеживание высоты с помощью модуля SKP370 или SKP470» (PDF). Инструменты биологических наук. Получено 2019-05-17.
  19. ^ Wapner, K .; Schoenberger, B .; Stratmann, M .; Грюндмайер, Г. (2005). «Сканирующий зонд Кельвина с регулировкой высоты для одновременного измерения топологии поверхности и электродных потенциалов на границах раздела скрытых полимеров и металлов». Журнал Электрохимического общества. 152 (3): E114. Дои:10.1149/1.1856914.
  20. ^ Fernández Garrillo, P.A .; Grévin, B .; Chevalier, N .; Боровик, Ł. (2018). «Картирование калиброванной работы выхода с помощью зондовой силовой микроскопии Кельвина». Обзор научных инструментов. 89 (4): 043702. Дои:10.1063/1.5007619.
  21. ^ «Пример визуализации SKP образца Fe с покрытием из цинка» (PDF). Инструменты биологических наук. Получено 2019-05-17.
  22. ^ Fan, Weijie; Чжан, Юн; Ли, Вэйхуа; Ван, Вэй; Чжао, Сяодун; Песня, Лиин (2019). «Многоуровневая способность к самовосстановлению полиуретанового покрытия с памятью формы с микрокапсулами путем индукционного нагрева». Журнал химической инженерии. 368: 1033–1044. Дои:10.1016 / j.cej.2019.03.027.
  23. ^ Борт, Дэвид Дж .; Иеззи, Эрик Б .; Дудис, Дуглас С .; Хансен, Дуглас К. (2019). «Неразрушающая оценка систем уретан-эфирных покрытий с использованием метода сканирующего зонда Кельвина». Коррозия. 75 (5): 457–464. Дои:10.5006/3020. ISSN  0010-9312.
  24. ^ Чжан, Давэй; Чжоу, Фэйчи; Сяо, Куй; Цуй, Тяньюй; Цянь, Хунчжун; Ли, Сяоган (2015). «Микробиологическая коррозия нержавеющей стали 304 и титана, вызванная P. variotii и A. niger во влажной атмосфере». Журнал материаловедения и производительности. 24 (7): 2688–2698. Дои:10.1007 / s11665-015-1558-2. ISSN  1059-9495.
  25. ^ Szklarska, M .; Dercz, G .; Kubisztal, J .; Балин, К .; Лосевич, Б. (2016). «Полупроводящие свойства слоя диоксида титана на поверхности сплава имплантата Ti-15Mo в биологической среде». Acta Physica Polonica A. 130 (4): 1085–1087. Дои:10.12693 / APhysPolA.130.1085. ISSN  0587-4246.
  26. ^ Конг, Дэчен; Донг, Чаофан; Ни, Сяоцин; Человек, Ченг; Сяо, Куй; Ли, Сяоган (2018). «Понимание механизма влияния легирующих элементов (Sn, Be) на коррозию меди при длительной деградации в суровых морских условиях». Прикладная наука о поверхности. 455: 543–553. Дои:10.1016 / j.apsusc.2018.06.029.
  27. ^ Jin, Z.H .; Ge, H.H .; Lin, W.W .; Zong, Y.W .; Liu, S.J .; Ши, Дж. М. (2014). «Коррозионное поведение нержавеющей стали 316L и антикоррозионных материалов в сильно подкисленном растворе хлорида». Прикладная наука о поверхности. 322: 47–56. Дои:10.1016 / j.apsusc.2014.09.205.
  28. ^ Диршерл, Конрад; Байки, Иэн; Форсайт, Грегор; Хайде, Арвид ван дер (2003). «Использование сканирующего зонда Кельвина с микроострием для неинвазивного картирования поверхностного потенциала солнечных элементов mc-Si». Материалы для солнечной энергии и солнечные элементы. 79 (4): 485–494. Дои:10.1016 / s0927-0248 (03) 00064-3. ISSN  0927-0248.
  29. ^ Лю, Сянъян; Чжэн, Хайу; Чжан, Цзивэй; Сяо, Инь; Ван, Чжиюн (2013). «Фотоэлектрические свойства и динамика заряда для набора твердотельных солнечных элементов с Cu4Bi4S9 в качестве поглощающего слоя». Журнал химии материалов A. 1 (36): 10703. Дои:10.1039 / c3ta11830d. ISSN  2050-7488.
  30. ^ Уильямс, Герайнт; МакМюррей, Х. Н. (2008). «Отпечаток пальца человека - взаимодействие металла изучается с помощью сканирующего зонда Кельвина». Транзакции ECS. Вашингтон, округ Колумбия: ECS. 11: 81–89. Дои:10.1149/1.2925265.
  31. ^ Брайант, Дэвид Э .; Гринфилд, Дэвид; Уолшоу, Ричард Д .; Evans, Suzanne M .; Ниммо, Александр Е .; Смит, Кэролайн Л .; Ван, Лиминг; Пасек, Мэтью А .; Ки, Теренс П. (2009). «Электрохимические исследования железных метеоритов: окислительно-восстановительная химия фосфора на ранней Земле». Международный журнал астробиологии. 8 (1): 27–36. Дои:10.1017 / S1473550408004345. ISSN  1473-5504.
  32. ^ Брайант, Дэвид Э .; Гринфилд, Дэвид; Уолшоу, Ричард Д .; Джонсон, Бенджамин Р.Г .; Херши, Барри; Смит, Кэролайн; Пасек, Мэтью А .; Телфорд, Ричард; Скоуэн, Ян (2013). «Гидротермальная модификация железного метеорита Сихотэ-Алиня в геотермальных условиях с низким pH. Вероятно, пребиотический путь к активированному фосфору на ранней Земле». Geochimica et Cosmochimica Acta. 109: 90–112. Дои:10.1016 / j.gca.2012.12.043.
  33. ^ Нуччителли, Ричард; Нуччителли, Памела; Рамлатчан, Самдео; Сэнгер, Ричард; Смит, Питер Дж. (2008). «Визуализация электрического поля, связанного с ранами кожи мыши и человека». Ремонт и регенерация ран. 16 (3): 432–441. Дои:10.1111 / j.1524-475X.2008.00389.x. ISSN  1067-1927. ЧВК  3086402. PMID  18471262.
  34. ^ Гоу, Брайан Дж .; Cheng, Justine L .; Baikie, Iain D .; Martinsen, Ørjan G .; Чжао, Мин; Смит, Стефани; Ан, Эндрю С. (2012). «Электрический потенциал точек акупунктуры: использование бесконтактного сканирующего зонда Кельвина». Доказательная дополнительная и альтернативная медицина. 2012: 632838. Дои:10.1155/2012/632838. ISSN  1741-427X. ЧВК  3541002. PMID  23320033.

внешняя ссылка